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力德三坐標(biāo)測量儀的使用
日期：2025-07-30 04:12
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摘要：
力德三坐標(biāo)測量儀簡稱CMM，自六十年代中期**臺問世以來，隨著計算機(jī)技術(shù)的進(jìn)步以及電子控制系統(tǒng)、檢測技術(shù)的發(fā)展，為測量機(jī)向高精度、高速度方向發(fā)展提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支持。
CMM按測量方式可分為接觸測量和非接觸測量以及接觸和非接觸并用式測量，接觸測量常于測量機(jī)械加工產(chǎn)品以及壓制成型品、金屬膜等。現(xiàn)以接觸式測量機(jī)為例來說明幾種掃描物體表面，以獲取數(shù)據(jù)點的幾種方法，數(shù)據(jù)點結(jié)果可用于加工數(shù)據(jù)分析，也可為逆向工程技術(shù)提供原始信息。掃描指借助測量機(jī)應(yīng)用PC-DMIS軟件在被測物體表面特定區(qū)域內(nèi)進(jìn)行數(shù)據(jù)點采集。此區(qū)域可以是一條線、一個面片、零件的一個截面、零件的曲線或距邊緣一定距離的周線。掃描類型與測量模式、測頭類型及是否有CAD文件等有關(guān)，狀態(tài)按紐。決定了屏幕上可選用的“掃描”選項。若用DCC方式測量，又具有CAD文件，那么掃描方式有開線、閉線、面片、截面及周線掃描。若用DCC方式測量，而只有線框型CAD文件，那么可選用 開線、閉線和面片掃描方式。若用手動測量模式，那么只能用基本的手動觸發(fā)掃描方式。若在手動測量方式，測頭為剛性測頭，那么可用選項固定間隔、變化間隔、時間間隔和主體軸向掃描方式。
CMM按測量方式可分為接觸測量和非接觸測量以及接觸和非接觸并用式測量，接觸測量常于測量機(jī)械加工產(chǎn)品以及壓制成型品、金屬膜等。現(xiàn)以接觸式測量機(jī)為例來說明幾種掃描物體表面，以獲取數(shù)據(jù)點的幾種方法，數(shù)據(jù)點結(jié)果可用于加工數(shù)據(jù)分析，也可為逆向工程技術(shù)提供原始信息。掃描指借助測量機(jī)應(yīng)用PC-DMIS軟件在被測物體表面特定區(qū)域內(nèi)進(jìn)行數(shù)據(jù)點采集。此區(qū)域可以是一條線、一個面片、零件的一個截面、零件的曲線或距邊緣一定距離的周線。掃描類型與測量模式、測頭類型及是否有CAD文件等有關(guān)，狀態(tài)按紐。決定了屏幕上可選用的“掃描”選項。若用DCC方式測量，又具有CAD文件，那么掃描方式有開線、閉線、面片、截面及周線掃描。若用DCC方式測量，而只有線框型CAD文件，那么可選用 開線、閉線和面片掃描方式。若用手動測量模式，那么只能用基本的手動觸發(fā)掃描方式。若在手動測量方式，測頭為剛性測頭，那么可用選項固定間隔、變化間隔、時間間隔和主體軸向掃描方式。
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